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X射线光电子能谱（XPS）-成都

样品要求

1. 预处理尺寸要求：块状/片状/薄膜：长宽厚不超出1 cm × 1 cm × 3 mm（磁性样品尽量小）（对块状样品或薄膜样品的测试面做好标记）；粉末样品大于200目，不少于10mg，量少请用称量纸包好再装到管子里寄送。请勿用手触摸样品表面，会引入污染。制好样后请尽快密封，避免其他物质污染；

2. 送样前样品需充分干燥，否则影响仪器真空度。高分子样品在送样前应进行干燥处理。若含有高挥发性分子等请务必烘烤；

3. 样品含有硫、碘等卤族元素请务必填写或者提前告知，避免污染高真空系统；

4. 样品在超高真空及在X射线、紫外线、电子束或Ar离子束照射下应稳定，不分解、不释放气体。

案例 功能

案例

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功能

X射线光电子能谱法是一种表面分析方法，提供的是样品表面的元素含量与形态。

如果辅以离子刻蚀手段，再利用XPS作为分析方法，则可以实现对样品的深度分析。

一、XPS的特点

1. 可以分析除 H 和 He 以外的所有元素；

2. 提供有关化学键方面的信息，即直接测量价层电子及内层电子轨道能级；

3. 是一种高灵敏超微量的表面分析技术，分析所需试样量极少，样品分析深度为0.5-10nm 。

二、XPS的应用

1. 元素定性分析；

2. 元素半定量分折；

3. 固体表面分析；

4. 化合物结构鉴定。